瓷片电容|供应瓷片电容|东莞嘉禾电子

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高压陶瓷电容器的可靠性测试，也叫老化测试，寿命测试，包括很多方面的测试内容：

1，耐压实验，包括额定工作电压24小时工作测试；也包括击穿耐压，即破坏性测试，电容被击穿前的那一个临界电压就是击穿电压。

2，串联电阻测试，绝缘电阻测试；

3，拉力测试，即引线与芯片焊接的牢固度；

4，正负温变化率测试，即-40度到+60度状况下 供应瓷片电容，电容的变化率；

5，老化测试，电容在模拟工作环境状态下运作30~60天，测试其衰减其各项参数的变化；

6，寿命测试，即在老化测试的基础上，再对电容进行高频冲电流下快速充放电测试，得到的充放电次数就是充放电寿命，注意，这个寿命的得出是在长时间的老化之后得出的。

7，局放测试，即局部放电测试；

当然 瓷片电容，在这些测试过程中，我们可以得出各种参数，如额定电压，击穿电压，过电流，工作频率，容量变化率，绝缘电阻，等。每一种电容在研发与生产配料再次生产时，都要重新进行测试，才能准确判断产品是否合格。

金属化聚丙烯膜电容器CBB21

      高频损耗小

      内部温升小

      绝缘电阻高 瓷片陶瓷电容，自愈型好，寿命长

      广泛用于高频，直流，交流 瓷片电容厂家，脉冲和S校正电路中

◆ 特点 

★ 金属化聚丙烯薄膜

★ 全愈性能好

★ 环氧树脂包封

★ 高频损耗小

★ 绝缘性好

◆ 产品介绍

★金属化聚丙烯薄膜卷绕而成，无感结构，单向引出，环氧树脂包封。

◆ 用途 

★各种直流，脉动，高频较大电流场合，广泛应用于要求高频率，高电流，高稳定性的电器。